Über BoD

Menü
Mein Konto
Navigation umschalten
Mein Warenkorb
Suche
Erweiterte Suche

Suchergebnis

  1. Reliability of high-k / metal gate field-effect transistors considering circuit operational constraints
    Reliability of high-k / metal gate field-effect tr(...) Steve Kupke
    Verlag: Books on Demand Erscheinungsdatum: 06.06.2016
    29,99 €
    Buch

    inkl. MwSt. / portofrei

    sofort verfügbar

    19,99 €
    E-Book

    inkl. MwSt.

    sofort lieferbar als Download

Filter