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  1. Reliability of high-k / metal gate field-effect transistors considering circuit operational constraints
    Reliability of high-k / metal gate field-effect tr(...) Steve Kupke
    Verlag: Books on Demand Erscheinungsdatum: 19.05.2016
    29,99 €
    Buch

    inkl. MwSt. / portofrei

    sofort verfügbar

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